Starrett Metrology Systems nombra a Jim VandeHei como director de ventas
VandeHei será responsable de las ventas en América del Norte de los sistemas de visión, los proyectores de medición óptica y los sistemas de medición de fuerza de Starrett Metrology Systems.
Jim VandeHei, nuevo director de ventas de Starrett Metrology Systems.
L.S. Starrett Company, fabricante de herramientas y calibres de medición de precisión, así como de sistemas de metrología, anunció el nombramiento de Jim VandeHei como director de ventas de la división Starrett Metrology Systems.
En este puesto recién creado, la responsabilidad principal de VandeHei serán las ventas en América del Norte de los sistemas de visión, los proyectores de medición óptica y los sistemas de medición de fuerza de la empresa.
“Me complace mucho anunciar que Jim se une a Starrett. Su amplia gestión de ventas y sus habilidades en el proceso serán clave para impulsar el crecimiento de nuestros productos de equipos de metrología en el mercado norteamericano”, dijo David Allen, vicepresidente de Starrett Metrology Systems.
VandeHei ha dirigido y desarrollado equipos de ventas multicanal durante más de 28 años, incluidos más de 20 años de gestión de operaciones comerciales y ventas de metrología para Hexagon Manufacturing Intelligence, Carl Zeiss IMT Corp. y DW Fritz Automation.
Se graduó de la Universidad de Wisconsin - Madison, donde recibió una licenciatura en ingeniería industrial, además de un certificado de desarrollo profesional para la Gestión Ejecutiva de Ventas.
Contenido relacionado
-
Innovaciones en equipos de escaneo 3D para metrología
Conozca los desarrollos recientes en equipos de escaneo 3D y cómo están transformando el control de calidad y la metrología en los talleres. Con un enfoque en la integración de la inteligencia artificial, la ingeniería inversa, las soluciones portátiles y la optimización de ciclos de producción, este artículo detalla los avances disponibles, su integración en el flujo de trabajo y su impacto en la medición y el análisis de componentes.
-
Inspección por rayos X: la nueva era de la metrología dimensional
La manufactura basada en datos recibe un impulso con una nueva línea de equipos de inspección por rayos X que genera un gemelo digital de la pieza mecanizada, incluidas representaciones 3D completas de las dimensiones internas y externas.
-
Fuente de los errores de alistamiento en la medición de forma
Explore los errores comunes en medición de forma, incluyendo errores de montaje y malentendidos sobre parámetros. Ideal para ingenieros en busca de datos precisos.
